新技術(shù)的采用和精細(xì)的設(shè)計(jì)

ZSXPrimusIV的各組件都使用著先端的要素技術(shù)，具有要求高精細(xì)的研究，和對(duì)大量測(cè)量的日常質(zhì)量。

一次X射線濾光片

X射線濾光片設(shè)置在X射線光管和樣品之間，用于減輕X射線光管發(fā)出的連續(xù)X射線或特征X射線對(duì)分析譜線的妨礙。

不需要PR氣體的S-PCLE

可以選配測(cè)量輕元素的氣體封閉型正比計(jì)數(shù)器(S-PC LE)。方便在難以購(gòu)置PR氣體的地方使用。注:使用F-PC檢測(cè)器時(shí)，必須使用檢測(cè)器用氣體(PR氣體)

散射線SQX

推定樣品中非測(cè)量成分的超輕元素(C、H、O、N)的影響，使用散射線強(qiáng)度來(lái)實(shí)現(xiàn)。污泥、水垢等含有非測(cè)量成分的樣品，不做非測(cè)量成分設(shè)定便可進(jìn)行更加準(zhǔn)確的近似定量分析。

高靈敏度彎晶

使用在SQX程序中，提高無(wú)標(biāo)樣定量分析的靈敏度?？膳渲肞ET彎晶和Ge彎晶。高靈敏度Ge彎晶與平晶相比，對(duì)P、S的靈敏度提高了30%；高靈敏度PRT彎晶與平晶相比，Al、Si的靈敏度提高了30%。

液體樣品盒自動(dòng)識(shí)別機(jī)構(gòu)

液體樣品盒自動(dòng)識(shí)別機(jī)構(gòu)，避免液體樣品盒在真空狀態(tài)下進(jìn)入樣品室，從而放心地測(cè)量液體樣品。分析液體樣品時(shí)，樣品室需要置換成He氣氛圍。

液體樣品分析用真空封擋系統(tǒng)

在樣品室和分析室之間以隔壁封擋方式自動(dòng)置換氦氣，大幅度縮短了由真空向氦氣光路的置換時(shí)間。

硬件安全、維護(hù)方便、軟件安心

操作失誤會(huì)導(dǎo)致儀器損壞，高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設(shè)計(jì)，采用上照射方式，即便粉末樣品發(fā)生粉末飛散也不會(huì)損壞儀器。設(shè)計(jì)為防止操作失誤的用戶分級(jí)管理方式。